Эпоха ручного поиска двумерных полупроводников исследователями, которые привлекают к себе внимание как полупроводники с искусственным интеллектом нового поколения, подходит к концу. Исследователи KAIST автоматизировали проверку полупроводников и изготовление устройств, проанализировали тысячи устройств и выявили взаимосвязь между толщиной и производительностью, которую долгое время было трудно определить.
Новости от techxplore
